X射線鍍層測(cè)厚儀Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是款功能*的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

X射線鍍層測(cè)厚儀Thick800A性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求；

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求；

高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm；

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度；

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊；

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)；

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加；

良好的射線屏蔽作用；

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量般為ppm到99.9%。

鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）。

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序。

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm。

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm。

重量：90kg。

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。

精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測(cè)器。

信號(hào)檢測(cè)電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器。

保護(hù)傳感器。

計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)。

產(chǎn)品特點(diǎn)

•應(yīng)用于各種鍍層厚度的分析；

•穩(wěn)定高壓電源和X光管，測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定；

•系統(tǒng)、的分析軟件和分析方法；

•多元的線性回歸法，消除和降低元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)；

•多種準(zhǔn)直器和濾光片的自動(dòng)切換；

•軟硬結(jié)合的防輻射設(shè)計(jì)；

•操作簡便，鍵式操作設(shè)計(jì)；

•快速無損分析樣品；

•超溫保護(hù)，超載保護(hù)。

技術(shù)規(guī)格

•探測(cè)器：美Amptek Si-PIN探測(cè)器，高速脈沖分析系統(tǒng)

•高壓電源：美Spellman 50w（50kv/MA）

•X射線管：50w側(cè)窗鈹窗型X射線管

•能量分辨率：149ev

•測(cè)量時(shí)間：60-300S

•測(cè)量含量范圍：2ppm-99.9%

•交流220v供電設(shè)備：1KVA交流凈化穩(wěn)壓電源

•工作溫度：10-30°C

•測(cè)量條件：大氣環(huán)境

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)；

金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。